NS系列臺(tái)階薄膜測(cè)厚儀是一款超精密接觸式微觀(guān)輪廓測(cè)量?jī)x器。采用線(xiàn)性可變差動(dòng)電容傳感器(LVDC),具有亞埃級(jí)分辨率,13μm量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線(xiàn)性誤差,使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百微米臺(tái)階的形貌特征。
CEM3000國(guó)產(chǎn)桌面掃描電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。不同于立式電鏡,CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上,在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
中圖儀器VT6000轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)成像系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成測(cè)量系統(tǒng)。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀(guān)形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
CEM3000系列電鏡掃描儀器是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)多類(lèi)型樣品的觀(guān)測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀(guān)的形貌和元素分析等。
SuperViewW精密納米級(jí)白光干涉儀以白光干涉技術(shù)為原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專(zhuān)用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
CEM3000系列超清掃描電鏡在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)多類(lèi)型樣品的觀(guān)測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)微觀(guān)的形貌和元素分析等。
CEM3000系列桌上臺(tái)式掃描電鏡主要用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測(cè)和分析。不同于立式電鏡,CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上,在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。
VT6000共聚焦成像檢測(cè)系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成測(cè)量系統(tǒng)。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀(guān)形貌檢測(cè),可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。
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